【***** 使用手冊】上一篇文章里我們說過了X射線熒光光譜儀的試驗方法，接下來我們就來談一談X射線熒光光譜儀的操作：　　一、儀器自檢　　為了隨時得到準確的分析結果，許多儀器都需要進行人工校正，而能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE在開啟后會對能量校正和定量值校正的操作進行幫助，當需要進行校正時可自動進行校正，**的縮短了儀器校正時間時間，方便了用戶操作使用。　　二、針對RoHS指令進行檢測　　能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE將針對RoHS指令有害5元素+氯元素所需的篩選操作步驟盡可能的自動化，以便進行RoHS法規5元素+氯元素(選配)的高速篩選分析。因此，EDX-LE從開始分析到得到結果只需要(根據樣品)約1分鐘，篩選分析速度得到了加強，但檢測準確度仍然保持在較高的水平。　　三、操作自動化　　能量色散型X射線熒光分析儀 EDX-LE操作簡潔方便，一個指令即可開始全自動測定。測定條件的選擇由裝置自動判斷，減少了傳統儀器繁瑣的操作步驟，讓初學者也能夠進行簡便、高精度地測定，**提升了用戶體驗，并將智能化理念巧妙的融入到了儀器設計之中。　　除了這三點優勢之外，X射線熒光光譜儀還具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)~U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品，廣泛的應用于我們的生產生活當中。 X射線熒光光譜儀的試驗方法

　　X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析B(5)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的**尺寸要求為直徑51mm，高40mm。

　　X射線熒光光譜儀的基本試驗方法：

　　X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（一次X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

　　用X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，以進行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。

　　X射線熒光光譜儀分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。

　　波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據Bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與同時式相結合的譜儀結合了兩者的優點。